Pomiary:
- Napięcia zmiennego AC maks. 750V
- Napięcia stałego DC maks. 1000V
- Prądu zmiennego AC maks. 20A
- Prądu stałego DC maks. 20A
- Rezystancji maks. 40MΩ
- Pojemności maks. 200uF
- Częstotliwości maks. 30MHz
- Temperatury -40°C ~ 1000°C
- Wzmocnienia tranzystorów hFE
- Test diod
- Test ciągłości obwodu
- Test CMOS, TTL logiki
Specyfikacja:
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- 400mV | 0,1mV | ±(0,5%ww + 4c)
- 4V | 1mV | ±(0,5%ww + 4c)
- 40V | 10mV | ±(0,5%ww + 4c)
- 400V | 100mV | ±(0,5%ww + 4c)
- 1000V | 1V | ±(1%ww + 4c)
Impedancja wejściowa: >40 MΩ na zakresie 400mV, na innych zakresach 10MΩ
Ochrona przed przeciążeniem: 1000V DC lub 750V AC pik
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- 400mV | 0,1mV | ±(1,5%ww + 6c)
- 4V | 1mV | ±(0,8%ww + 6c)
- 40V | 10mV | ±(0,8%ww + 6c)
- 400V | 100mV | ±(0,8%ww + 6c)
- 750V | 1V | ±(1,0%ww + 6c)
Impedancja wejściowa: >40 MΩ na zakresie 400mV, na innych zakresach 10MΩ
Ochrona przed przeciążeniem: 1000V DC lub 750V AC pik
Odpowiedź częstotliwościowa:
- 40~100Hz na zakresie 750V
- 40~400Hz na innych zakresach
Wyświetlanie: średnia wartość skuteczna (bazując na przebiegu sinusoidalnym RMS)
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- 400μA | 0,1μA | ±(1,0%ww + 5c)
- 4000μA | 1μA | ±(1,0%ww + 5c)
- 40mA | 10μA | ±(1,0%ww + 5c)
- 400mA | 100μA |±(1,0%ww + 5c)
- 4A | 1mA |±(1,0%ww + 5c)
- 20A | 10mA | ±(2,0%ww + 5c)
Maksymalny spadek napięcia: 400mV dla zakresu mA oraz 200mV dla zakresu A
Maksymalny prąd wejściowy: 20A (przez 15s)
Ochrona przed przeciążeniem: bezpieczniki 0,2A/250V i 13A/250V
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- 400μA | 0,1μA | ±(1,5%ww + 5c)
- 4000μA | 1μA | ±(1,5%ww + 5c)
- 40mA | 10μA | ±(1,5%ww + 5c)
- 400mA | 100μA | ±(1,5%ww + 5c)
- 4A | 1mA | ±(1,5%ww + 5c)
- 20A | 10mA | ±(2,0%ww + 10c)
Maksymalny spadek napięcia: 400mV dla zakresu mA oraz 200mV dla zakresu A
Maksymalny prąd wejściowy: 20A (przez 15s)
Ochrona przed przeciążeniem: bezpieczniki 0,2A/250V i 13A/250V
Odpowiedź częstotliwościowa: 40~100Hz na zakresie 20A
40~400Hz na innych zakresach
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- 400Ω | 0,1 Ω | ±(0,8%ww + 5c)
- 4kΩ | 1Ω | ±(0,8%ww + 2c)
- 40kΩ | 10Ω | ±(0,8%ww + 2c)
- 400kΩ | 100Ω | ±(0,8%ww + 2c)
- 4MΩ | 1kΩ | ±(0,8%ww + 2c)
- 40MΩ | 10kΩ | ±(1,2%ww + 5c)
Napięcie rozwartego obwodu: 400mV
Ochrona przed przeciążeniem: 250V DC/AC pik
UWAGA: Przed pomiarem na zakresie 400Ω zaleca się zmierzyć rezystancję zwartych przewodów pomiarowych i ten wynik odejmować od wskazań lub nacisnąć przycisk [REL] aby skompensować rezystancję przewodów i odczytać wartość bezpośrednio.
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- 4nF | 1pF | ±(5%ww + 8c)
- 40nF | 10pF | ±(3,5%ww + 8c)
- 400nF | 100pF | ±(3,5%ww + 8c)
- 4uF | 1nF | ±(3,5%ww + 8c)
- 40uF | 10nF | ±(3,5%ww + 8c)
- 200uF | 100nF | ±(5,0%ww + 8c)
Ochrona przed przeciążeniem: 250V DC/AC pik
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- 10Hz | 0,001Hz | ±(0,5%ww + 4c)
- 100Hz | 0,01Hz | ±(0,5%ww + 4c)
- 1000Hz | 0,11Hz | ±(0,5%ww + 4c)
- 10kHz | 1Hz | ±(0,5%ww + 4c)
- 100kHz | 10Hz | ±(0,5%ww + 4c)
- 1MHz | 100Hz | ±(0,5%ww + 4c)
- 30MHz | 1kHz | ±(0,5%ww + 4c)
Czułość wejścia: >0,7V
Ochrona przed przeciążeniem: 250V DC/AC pik
Zakres | Wyświetlanie | Warunki testu
- Układ logiczny TTL | ▲ | >2,5V±0,8V
- Układ logiczny TTL | ▼ | <0,8V±0,5V
- Układ logiczny CMOS | ▲ | >4,0V±1,0V
- Układ logiczny CMOS | ▼ | <2,0V±0,5V
Odpowiedź częstotliwościowa: 20MHz
Wykrywana szerokość impulsu: 25ns
Pomiar | Zakres | Warunki testu
- hFE NPN lub PNP | 0~1000 | Prąd bazowy ok 15μA, Vce ok. 4,5V
Opis | Warunki testu
- Spadek napięcia w kierunku przewodzenia | DCA przewodzenia ok. 0,5mA Napięcie w kier. zaporowym ok. 1,5V
- Ciągły sygnał brzęczyka dla rezystancji < (50 ±10) Ω | Napięcie rozwarcia ok. 0,5V
Ochrona przed przeciążeniem: 250V DC/AC pik
UWAGA: Przy powyższej funkcji nie wolno podawać napięcia!
Zakres | Rozdzielczość | Dokładność
- (-40~1000°C) | 1°C | <400°C ±(0,8%ww + 4c) ≥400°C ±(1,5%ww + 15c)
Sonda: typu K z wtykiem bananowym
- Wyposażenie: przewody pomiarowe, instrukcja obsługi, sonda temperatury, pudełko, 2 baterie 1,5V (AAA)